A l’attention de nos lecteurs non-initiés, MEB signifie Microscope Electronique à Balayage, et MET signifie Microscope Electronique à Transmission. Les acronymes anglais (SEM: Scanning Electron Microscope; TEM: Transmission Electron Microscope) sont couramment utilisés. La description rapide du SEM et du TEM a été donnée dans une question posée précédemment.
Effectivement, le SEM et le TEM sont parfaitement complémentaires, puisque l’un (le SEM; balayage d’un faisceau d’électrons à la surface de l’échantillon) permet d’étudier des objets massifs (p.ex. un insecte complet, un fragment complet de roche) et d’obtenir des informations sur sa structure tridimensionnelle et ses caractéristiques de surface, tandis que l’autre (le TEM; transmission d’un faisceau élargi d’électrons au-travers de l’échantillon ayant été préparé sous forme d’une lame ultramince), permet d’obtenir, avec une grande résolution latérale, des informations sur la nature de l’objet (p.ex. présence d’éléments légers ou lourds) et sa structure ultrafine.
En général, le SEM est plutôt utilisé par les chercheurs en sciences de la Terre, tandis que le TEM est plutôt utilisé par les chercheurs en sciences de la Vie, mais une étude sérieuse et exhaustive d’échantillons pourrait faire appel à la visualisation préalable d’un échantillon par SEM, puis, de manière complémentaire, à l’investigation détaillée de l’échantillon par TEM. La résolution latérale du TEM est supérieure à celle du SEM.